«И» «ИЛИ»  
© Публичная Библиотека
 -  - 
Универсальная библиотека, портал создателей электронных книг. Только для некоммерческого использования!
«Измерения в электронике»
.

«Измерения в электронике» 444k

-

(1981 - 1985)

Серия. Москва: Издательство «Радио и связь».
.
Выпуски:
* Батавин В.В. Концевой Ю.А., Федорович Ю.В. Измерение параметров полупроводниковых материалов и структур. (1985)
* Геда Н.Ф. Измерение параметров приборов оптоэлектроники. (1981)
* Измерение параметров приемников оптического излучения. (1983)
* Измерение параметров цифровых интегральных микросхем. (1982)
* Измерение энергетических параметров и характеристик лазерного излучения. (1981)
* Измерения на миллиметровых и субмиллиметровых волнах: Методы и техника. (1984)
* Чернушенко A.M... Измерение параметров электронных приборов дециметрового и сантиметрового диапазонов волн. (1986)
  • Геда Н.Ф. Измерение параметров приборов оптоэлектроники. [Djv-11.0M] Автор: Николай Федорович Геда. Под редакцией С.В. Свечникова. Художник Ю.П. Трапаков.
    (Москва: Издательство «Радио и связь»: Редакция литературы по электронной технике, 1981. - Серия «Измерения в электронике»)
    Скан: AAW, обработка, формат Djv: pohorsky, 2017
    • КРАТКОЕ ОГЛАВЛЕНИЕ:
      Предисловие (3).
      Введение (6).
      Глава 1. Система обеспечения единства и требуемой точности измерений параметров приборов некогерентной оптоэлектроники (9).
      Глава 2. Элементы фотометрии (58).
      Глава 3. Физические принципы преобразования электрических и оптических сигналов (79).
      Глава 4. Система параметров излучающих приборов и приборов визуального представления информации и методы их измерения (112).
      Глава 5. Система параметров фотоприемников и методы их измерения (126).
      Глава 8. Системы параметров оптопар и оптоэлектронных микросхем и методы их измерения (138).
      Глава 7. Измерительное оборудование для контроля параметров изделий некогерентной оптоэлектроники (152).
      Глава 8. Информационно-измерительные комплексы, управляемые ЭВМ, в производстве изделий некогерентной оптоэлектроники (189).
      Глава 9. Метрологическое обеспечение разработок и производства изделий некогерентной оптоэлектроники (258).
      Глава 10. Измерение параметров и проблемы метрологического обеспечения в производстве полупроводниковых материалов некогерентной оптоэлектроники (330).
      Список литературы (351).
      Предметный указатель (360).
Аннотация издательства: Приведена классификация приборов некогерентной оптоэлектроники и определена оптимальная система параметров. Рассмотрены методы измерения параметров и основы проектирования информационно-измерительных комплексов, управляемых ЭВМ. Обсуждено метрологическое обеспечение разработок и производства приборов некогерентной оптоэлектроники. Разработаны научно-методические основы метрологического обеспечения предприятия.
Для специалистов, работающих в различных областях радиоэлектроники, а также для студентов и аспирантов соответствующих специальностей.
  • Измерение параметров цифровых интегральных микросхем. [Djv- 6.0M] Авторы: Данелюс Юозович Эйдукас, Борис Владимирович Орлов, Леонид Михайлович Попель, Владилен Игнатьевич Лышенко, Олег Николаевич Шаромет, Николай Николаевич Данилин, Леонид Валентинович Духовской. Под редакцией Д.Ю. Эйдукаса, Б.В. Орлова.
    (Москва: Издательство «Радио и связь»: Редакция литературы по электронной технике, 1982. - Серия «Измерения в электронике»)
    Скан: AAW, обработка, формат Djv: pohorsky, 2017
    • КРАТКОЕ ОГЛАВЛЕНИЕ:
      Предисловие (3).
      Глава 1. Цифровые интегральные микросхемы (5).
      Глава 2. Статические и динамические параметры интегральных микросхем и методы их измерения (39).
      Глава 3. Функциональный контроль интегральных микросхем (69).
      Глава 4. Средства измерения и контроля статических параметров цифровых интегральных микросхем (126).
      Глава 5. Средства измерения и контроля динамических параметров интегральных микросхем (174).
      Глава 6. Средства функционального контроля интегральных микросхем (236).
      Глава 7. Программное обеспечение систем контроля (275).
      Глава 8. Производственные системы измерения и контроля интегральных микросхем (325).
      Заключение (350).
      Список литературы (356).
      Приложение (353).
Аннотация издательства: Обобщен опыт разработки методов и средств измерения и контроля параметров цифровых интегральных микросхем (ИС). Рассматриваются различные классы цифровых ИС и их характеристики. Излагаются методы измерения статических и динамических параметров, функционального контроля цифровых ИС, принципы построения средств измерения и контроля.
Для инженерно-технических работников - разработчиков цифровых ИС и аппаратуры на их основе, а также для специалистов по метрологическому обеспечению выходного и входного контроля ИС.
  • Измерение энергетических параметров и характеристик лазерного излучения. [Djv- 7.2M] [Pdf- 8.4M] Авторы: Борис Яковлевич Бурдаев, Рафкат Амирхашович Валитов, Марк Александрович Винокур, Юрий Андреевич Калинин, Михаил Леонидович Козаченко, Николай Григорьевич Кокодий, Андрей Федорович Котюк, Лев Самсонович Кременчугский, Анатолий Петрович Ромашков, Валентин Сергеевич Соловьев, Борис Михайлович Степанов, Владимир Ефимович Стысич, Сергей Владимирович Тихомиров, Анатолий Кондратьевич Торопов, Николай Петрович Хатырев, Виктор Александрович Яковлев. Под редакцией А.Ф. Котюка. Художник Ю.П. Трапаков.
    (Москва: Издательство «Радио и связь»: Редакция литературы по электронной технике, 1981. - Серия «Измерения в электронике»)
    Скан: AAW, обработка, формат Djv: pohorsky, 2019
    • КРАТКОЕ ОГЛАВЛЕНИЕ:
      Предисловие (5).
      Введение (8).
      Глава 1. Основные физические принципы измерительного преобразования. Первичные измерительные преобразователи (27).
      Глава 2. Измерения средней мощности и энергии лазерного излучения (121).
      Глава 3. Измерения формы, энергетических и временных параметров импульса лазерного излучения (157).
      Глава 4. Измерения пространственно-энергетических характеристик лазерного излучения (246).
Аннотация издательства: Описаны методы и средства измерений энергетических параметров и характеристик лазерного излучения. Рассмотрены основные физические принципы лазерной метрологии и методы построения первичных измерительных преобразователей. Описаны нашедшие широкое применение измерительные приборы и системы, а также основы их метрологического обеспечения.
Рассчитана на широкий круг специалистов, занимающихся разработкой и эксплуатацией лазеров, а также интересующихся измерениями параметров и характеристик их выходного излучения.
  • Измерения на миллиметровых и субмиллиметровых волнах: Методы и техника. [Djv- 6.6M] Авторы: Рафкат Амирханович Валитов, Станислав Филиппович Дюбко, Борис Иванович Макаренко, В.М. Кузьмичев, В.В. Мериакри, Б.А. Мурмужев, М.А. Иванов, Р.П. Быстрое, Е.Т. Жуков, А.С. Клейман, Э.Д. Прохоров, В.М. Светличный, В.Н. Скресанов, В.С. Соловьев, А.И. Фисун, В.В. Шмидт. Под редакцией Р.А. Валитова, Б.И. Макаренко.
    (Москва: Издательство «Радио и связь»: Редакция литературы по электронной технике, 1981. - Серия «Измерения в электронике»)
    Скан: AAW, обработка, формат Djv: pohorsky, 2017
    • КРАТКОЕ ОГЛАВЛЕНИЕ:
      Предисловие (3).
      Глава 1. Измерительные генераторы (7).
      Глава 2. Приемники излучения (50).
      Глава 3. Линии передачи электромагнитных волн и измерение их характеристик (91).
      Глава 4. Элементы измерительных трактов (126).
      Глава 5. Измерение полей в квазиоптических системах (155).
      Глава 6. Измерение частотных и спектральных характеристик сигналов (175).
      Глава 7. Измерение длины волны (204).
      Глава 8. Измерение добротности (221).
      Глава 9. Измерение мощности (236).
      Глава 10. Измерение параметров материалов (252).
      Приложение I. Определение частотных и спектральных характеристик квазигармонических сигналов (273).
      Приложение II. Частоты ЛОН СБМ диапазона (277).
      Список литературы (282).
Аннотация издательства: Систематизированы и обобщены основные вопросы измерений, их методы и техника на миллиметровых и субмиллиметровых волнах. Рассмотрены измерительная аппаратура и устройства: измерительные генераторы и приемники; линии передач и элементы измерительных трактов, измерители длин волн, частотных и спектральных характеристик сигналов, распределения полей в квазиоптических системах, добротности, мощности, параметров материалов.
Для инженерно-технических работников, занимающихся разработкой и применением аппаратуры в миллиметровом и субмиллиметровом диапазонах длин волн, а также может быть полезна аспирантам и студентам вузов.
  • Чернушенко А.М... Измерение параметров электронных приборов дециметрового и сантиметрового диапазонов волн. [Djv- 8.4M] [Pdf- 9.5M] Авторы: Анатолий Максимович Чернушенко, Анатолий Викторович Майбородин. Под редакцией А.М. Чернушенко.
    (Москва: Издательство «Радио и связь»: Редакция литературы по электронной технике, 1986. - Серия «Измерения в электронике»)
    Скан: AAW, обработка, формат Djv: pohorsky, 2019
    • КРАТКОЕ ОГЛАВЛЕНИЕ:
      Предисловие (3).
      Глава 1. Общие вопросы измерения характеристик приборов СВЧ (4).
      Глава 2. Измерительные тракты, их элементы и узлы (29).
      Глава 3. Измерение коэффициентов отражения и полного сопротивления (93).
      Глава 4. Измерение ослабления и коэффициента усиления (122).
      Глава 5. Измерение шумов (134).
      Глава 6. Измерение разности фаз (153).
      Глава 7. Автоматизация измерений 5-параметров (164).
      Глава 8. Измерение характеристик колебательных систем (176).
      Глава 9. Измерение частотных и спектральных характеристик сигналов СВЧ приборов (208).
      Глава 10. Измерение мощности (230).
      Глава 11. Измерение характеристик и параметров магнетронных генераторов большой импульсной мощности (244).
      Глава 12. Измерение характеристик и параметров усилителей большой мощности на пролетном клистроне (272).
      Глава 13. Измерение параметров полупроводниковых СВЧ диодов (284).
      Глава 14. Измерение параметров СВЧ транзисторов (300).
      Глава 15. Измерение характеристик и параметров усилителей малой мощности на ЛБВ (313).
      Глава 16. Измерение характеристик и параметров генераторов малой мощности на отражательном клистроне (321).
      Список литературы (328).
Аннотация издательства: Рассмотрены основные параметры и характеристики, методы и средства измерения, испытания и контроля параметров СВЧ приборов. Основное внимание уделено вопросам измерения частоты, фазы, спектра, мощности, добротности, 8-параметров (временной и частотный методы), структуры электромагнитных полей, флуктуации, шумов. Проведен анализ погрешности измерения.
Для инженерно-технических работников, занимающихся проектированием, исследованием, изготовлением и применением приборов СВЧ.