Чернышев Александр Алексеевич

Ⓐ ⒸЧернышев А.А. Основы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем. [Djv- 7.1M] Автор: Александр Алексеевич Чернышев. Производственное издание.
(Москва: Издательство «Радио и связь»: Редакция литературы по электронной технике, 1988)
Скан: AAW, OCR, обработка, формат Djv: pohorsky, 2017

КРАТКОЕ ОГЛАВЛЕНИЕ:
Предисловие (3).
Список сокращений (5).
Список условных обозначений физических величин (6).
Введение (9).
Глава 1. Основы теории надежности (19).
Глава 2. Виды внешних воздействии и их классификация (39).
Глава 3. Механические воздействия (50).
Глава 4. Климатические воздействия и агрессивные среды (65).
Глава 5. Радиационные воздействия (72).
Глава 6. Воздействие технологических факторов на полупроводниковые приборы и интегральные микросхемы (89).
Глава 7. Воздействие технологических и эксплуатационных факторов при изготовлении и использовании аппаратуры (120).
Глава 8. Виды и механизмы отказов полупроводниковых приборов и интегральных микросхем (134).
Глава 9. Виды испытании и система испытании на надежность (168).
Глава 10. Прогнозирование надежности приборов и диагностика (193).
Глава 11. Организационные особенности обеспечения надежной работы полупроводниковых приборов и интегральных микросхем в аппаратуре (208).
Заключение (241).
Список литературы (249).

ИЗ ИЗДАНИЯ: В книге на основе современных физических представлений рассмотрены вопросы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем. Значительное внимание уделено влиянию различных технологических факторов и условий применения на надежность. Подробно рассмотрены дефекты, возникающие в исходных материалах, и механизмы отказов полупроводниковых приборов и интегральных микросхем. Изложены методы обеспечения их надежной работы в различной радиоэлектронной аппаратуре.
Книга рассчитана на инженерно-технических работников, занимающихся производством полупроводниковых приборов и интегральных микросхем и их применением. Она будет полезна студентам старших курсов соответствующих специальностей.